Surface Analysis

Die Oberflächenanalyse ist eine Technik, mit der nur die dünne Oberflächenschicht eines Festkörpers analysiert werden kann.

Als führender Hersteller von Geräten für die Oberflächenanalyse bieten wir innovative Instrumente und Lösungen für Ihre Anforderungen an die Oberflächenmessung und -analyse.

Das Shimadzu-Portfolio für die Oberflächenanalyse umfasst hochauflösende Rastersondenmikroskope (SPM)/Atomkraftmikroskope (AFM), Elektronensonden-Mikroanalysatoren (EPMA) und Röntgen-Photoelektronenspektrometer (XPS)/Elektronenspektroskopie für chemische Analysen (ESCA). Diese Instrumente werden in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt, z. B. in den Bereichen Stahl, Nichteisenmetalle, Umwelt, Lebensmittel, Chemikalien, Pharmazeutika, Halbleiter, Keramik und Polymere. 

Zu diesem Portfolio gehören das Mikroskop SPM-Nanoa mit leistungsstarken Werkzeugen für die Beobachtung der Form von Mikrobereichen und die Messung ihrer physikalischen Eigenschaften, das EPMA-8050G, das eine beispiellose räumliche Auflösung unter allen Strahlstrombedingungen von REM-Beobachtungsbedingungen bis hin zu 1 μA bietet, und das Röntgen-Photoelektronenspektrometer AXIS Supra+, das modernste spektroskopische und bildgebende Fähigkeiten mit dem höchsten derzeit verfügbaren Automatisierungsgrad kombiniert. 

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